常用嵌入式軟件測(cè)試方法分析和對(duì)比

發(fā)布時(shí)間：2020-10-12

由于嵌入式系統(tǒng)的自身特點(diǎn)，如實(shí)時(shí)性(Real-timing)，內(nèi)存不豐富，I/O通道少，開(kāi)發(fā)工具昂貴，并且與硬件緊密相關(guān)CPU種類繁多等等。嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試也就與一般軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試策略有了很大的不同。嵌入式軟件的測(cè)試可以分為軟件測(cè)試方法，硬件測(cè)試方式和軟硬件結(jié)合的測(cè)試方法，接下來(lái)就對(duì)各種測(cè)試方法進(jìn)行詳細(xì)分析對(duì)比。
 
軟件測(cè)試方法
軟件測(cè)試方法的目的就是盡量減少嵌入式軟件在目標(biāo)環(huán)境下測(cè)試的時(shí)間，不需要為了完成測(cè)試工作而建立專用的硬件測(cè)試環(huán)境，降低測(cè)試的成本。軟件測(cè)試方法一般是通過(guò)在宿主平臺(tái)上建立一個(gè)軟件方針測(cè)試環(huán)境來(lái)完成對(duì)被測(cè)軟件的測(cè)試。
 
硬件測(cè)試方法
常用的硬件測(cè)試方法主要包括總線監(jiān)視器、仿真存儲(chǔ)器、在線仿真器ICE和邏輯分析儀等。
 
軟硬件結(jié)合的測(cè)試方法
為了解決實(shí)時(shí)軟件測(cè)試過(guò)程中引入額外的代碼而產(chǎn)生的探針效應(yīng)問(wèn)題，測(cè)試工程師漸漸開(kāi)始研究軟硬件相結(jié)合的實(shí)時(shí)嵌入式軟件測(cè)試方法。在這些方法中，為了解決某個(gè)特定應(yīng)用中嵌入式軟件的實(shí)時(shí)性測(cè)試問(wèn)題，需要開(kāi)發(fā)專門的硬件設(shè)備和上層分析軟件。不過(guò)這種方法通用性不好，而且實(shí)現(xiàn)困難，測(cè)試成本高。
本文內(nèi)容不用于商業(yè)目的，如涉及知識(shí)產(chǎn)權(quán)問(wèn)題，請(qǐng)權(quán)利人聯(lián)系SPASVO小編(021-60725088-8054)，我們將立即處理，馬上刪除。
滬ICP備07036474號(hào) 2003-2024 版權(quán)所有 上海澤眾軟件科技有限公司 Shanghai ZeZhong Software Co.,Ltd.
微信
咨詢

添加客服微信 歡迎咨詢測(cè)試工具和測(cè)試服務(wù)

微信客服
問(wèn)題
反饋
產(chǎn)品
畫冊(cè)

掃描二維碼下載澤眾軟件企業(yè)宣傳冊(cè)

產(chǎn)品畫冊(cè)
返回
頂部

方案咨詢

×
提交信息

電話咨詢，400-035-7887，安排專業(yè)技術(shù)售前給您解答（產(chǎn)品試用、技術(shù)交流、服務(wù)咨詢和商務(wù)報(bào)價(jià)）。

您的信息已成功提交!

我們的客服人員稍后會(huì)與您聯(lián)系