如何進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)

發(fā)布時(shí)間：2022-11-16

測(cè)試用例設(shè)計(jì)分析是一個(gè)發(fā)散的過程，我們要考慮各種各樣的場(chǎng)景、數(shù)據(jù)。
 
測(cè)試用例編寫是一個(gè)收斂的過程，我們要把發(fā)散的思維轉(zhuǎn)化為一條一條可執(zhí)行的用例。
 
為了避免用例冗余、多、雜亂、重復(fù)、無效等問題，通常遵循以下原則進(jìn)行用例設(shè)計(jì)。
 
從左到右，由上而下
 
元素的布局，用戶的操作，都是習(xí)慣“從左到右，由上而下”，設(shè)計(jì)用例時(shí)同樣遵循這樣的原則。
 
面對(duì)一個(gè)需求或一個(gè)全新的功能模塊，在進(jìn)行用例設(shè)計(jì)時(shí)，為了避免測(cè)試對(duì)象丟失，用例設(shè)計(jì)混亂無序，我們遵從“從左到右，由上而下”的原則。依次對(duì)看到的測(cè)試對(duì)象進(jìn)行用例設(shè)計(jì)，測(cè)試點(diǎn)發(fā)散，最終輸出完整的測(cè)試用例。
 
按照上述原則編寫的用例，覆蓋所有可測(cè)對(duì)象，基本不會(huì)出現(xiàn)測(cè)試對(duì)象缺失，遺漏等現(xiàn)象。
 
但容易遺漏多測(cè)試對(duì)象組合的場(chǎng)景以及應(yīng)用型測(cè)試場(chǎng)景。
 
從外到內(nèi)，由點(diǎn)及面
 
對(duì)于測(cè)試路徑較深，鏈路較長(zhǎng)的測(cè)試場(chǎng)景，我們遵循“從外到內(nèi)”的設(shè)計(jì)思路，針對(duì)每一層測(cè)試路徑上的對(duì)象，逐個(gè)進(jìn)行設(shè)計(jì)。
 
再“由點(diǎn)及面”將路徑整合，測(cè)試對(duì)象整合，以此來豐富場(chǎng)景型、應(yīng)用型、組合型用例。
 
這樣，遵循上述原則設(shè)計(jì)出來的用例，就包含了每一層級(jí)上的所有測(cè)試對(duì)象、每個(gè)路徑上的所有測(cè)試對(duì)象、對(duì)象與對(duì)象的組合、路徑與路徑的組合，相對(duì)完善的覆蓋了所有可測(cè)對(duì)象。
 
另外，再結(jié)合頭腦風(fēng)暴、用例評(píng)審等手段，不斷促使用例的完整性與覆蓋率達(dá)到相對(duì)較高的水平。
 
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