黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試
　　黑盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格，可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求。
　　白盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的內(nèi)部工作過(guò)程，可以進(jìn)行測(cè)試證明每種內(nèi)部操作是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格要求，所有內(nèi)部成分是否經(jīng)過(guò)檢查。
　　1. 第一認(rèn)識(shí)：
　　黑盒測(cè)試
　　測(cè)試特點(diǎn)：測(cè)試功能；
　　測(cè)試依據(jù)：需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)
　　方法舉例：等價(jià)類(lèi)劃分、邊界值測(cè)試
　　優(yōu)點(diǎn)：能站在用戶(hù)的立場(chǎng)上進(jìn)行測(cè)試
　　缺點(diǎn)：不能測(cè)試程序內(nèi)部特定部位，如程序有誤，則無(wú)法發(fā)現(xiàn)。
　　白盒測(cè)試
　　測(cè)試特點(diǎn)：測(cè)試程序接口與結(jié)構(gòu)
　　測(cè)試依據(jù)：軟件程序
　　方法舉例：邏輯覆蓋
　　優(yōu)點(diǎn)：對(duì)程序內(nèi)部特定部位進(jìn)行覆蓋測(cè)試。
　　缺點(diǎn)：無(wú)法檢驗(yàn)程序外部特性。
　　2.第二認(rèn)識(shí)：
　　黑盒測(cè)試把程序看作一個(gè)不能打開(kāi)的黑盒子，在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下，針對(duì)“軟件界面”和”軟件功能“進(jìn)行測(cè)試，只檢查功能是否符合需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)能正常使用。因此黑盒測(cè)試又叫功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試。
　　白盒測(cè)試是對(duì)軟件的過(guò)程性細(xì)節(jié)做細(xì)致的檢查。這種方法是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)打開(kāi)的盒子，他允許測(cè)試人員利用程序內(nèi)部的邏輯結(jié)構(gòu)及有關(guān)信息，設(shè)計(jì)或選擇測(cè)試用例，對(duì)程序所有邏輯路徑進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)在不同點(diǎn)檢查程序狀態(tài)，確定實(shí)際狀態(tài)是否與預(yù)期的狀態(tài)一致。因此白盒測(cè)試又稱(chēng)為”結(jié)構(gòu)測(cè)試“或”邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試“。白盒測(cè)試是按照程序內(nèi)部的結(jié)構(gòu)來(lái)測(cè)試程序，通過(guò)測(cè)試檢驗(yàn)產(chǎn)品內(nèi)部動(dòng)作是否按照設(shè)計(jì)規(guī)格說(shuō)明書(shū)的要求正常進(jìn)行，檢驗(yàn)程序中的每條通道是否都按照規(guī)定正常工作。
　　3.第三認(rèn)識(shí)：
　　黑盒測(cè)試主要是為了發(fā)現(xiàn)以下錯(cuò)誤：
　　（1）是否有不正確或者遺漏了的功能；
　�。�2）在接口上，輸入能否正確的接受？能否輸出正確的結(jié)果？
　�。�3）是否有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤或外部信息（例如數(shù)據(jù)庫(kù)文件）訪(fǎng)問(wèn)錯(cuò)誤？
　　（4）性能上是否能夠滿(mǎn)足要求？
　�。�5）是否有初始化或終止性錯(cuò)誤？
　　黑盒的測(cè)試用例技術(shù)設(shè)計(jì)有三種：邊界值分析、等價(jià)類(lèi)劃分、錯(cuò)誤推測(cè)法。
　　白盒測(cè)試主要是想對(duì)程序模塊進(jìn)行以下檢查：
　　（1）對(duì)程序模塊的所有獨(dú)立的執(zhí)行路徑至少測(cè)試一遍；
　�。�2）對(duì)所有的邏輯判定，取”真“與”假“的兩種情況都能至少測(cè)一遍；
　�。�3）在循環(huán)的邊界和運(yùn)行的界限內(nèi)執(zhí)行循環(huán)體；
　�。�4）測(cè)試內(nèi)部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的有效性，等等；
　　（5）靜態(tài)白盒測(cè)試  ：即代碼審查，正式審查和檢驗(yàn)設(shè)計(jì)和程序代碼；
　　（6）動(dòng)態(tài)白盒測(cè)試 利用查看代碼功能和實(shí)現(xiàn)方式得到的信息來(lái)設(shè)計(jì)和執(zhí)行測(cè)試，也叫結(jié)構(gòu)測(cè)試；
　　白盒的測(cè)試用例技術(shù)包括：邏輯覆蓋和基本路徑測(cè)試。
　　邏輯覆蓋：是以程序內(nèi)在邏輯結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)的測(cè)試用例設(shè)計(jì)技術(shù)，這一方法要求測(cè)試人員對(duì)程序的邏輯結(jié)構(gòu)有清楚的了解。
　　基本路徑測(cè)試：在程序控制流程圖的基礎(chǔ)